pct试验箱

   pct试验箱适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药、线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性，气密性。测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间.

1. pct试验箱采用进口微电脑控制饱和蒸气温度、微电脑 P.I.D 自动演算控制饱和蒸气温度。

2. pct试验箱采用指针显示正负压表；时间控制器采 LED 显示器；自动水位控制器,水位不足时提供警示。

3. pct高压加速老化试验箱圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准, 可防止试验中结露滴水设计.。 

4. pct试验箱圆幅内衬,不锈钢圆幅型内衬设计,可避免蒸气潜热直接冲击试品.。 

5. pct高压加速老化试验箱精密设计,气密性良好,耗水量少,每次加水可连续 200h。

6. 自动门禁,圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制,专利安全门把设计,箱内有大于常压时测试门会被反压保护。 

7. 内压力愈大时,专利packing,箱门会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长packing寿命。 

8. 临界点 LIMIT 方式自动安全保护,异常原因与故障指示灯显示。 

10. 一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。

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